賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series

更新時間：2025-06-09

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簡要描述：賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。

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賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series簡介：

該檢測設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube，廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺和各個高精度驅(qū)動軸，可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進行斷層分析，通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer，自動檢測，實現(xiàn)Full Auto全自動檢測的設(shè)備。

賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series特點：

1.搭載自主研發(fā)生產(chǎn)的200nm級別開管式光管（Focal spot size Nano-focus open tube）

2.Wafer level工藝中，對TSV，Micro-bump，Cu pilar等產(chǎn)生的超細(xì)微不良進行自動檢測的優(yōu)秀選擇

3.SEC*的3D CT用Auto Collimation 及 Filtering技術(shù)實現(xiàn)X-ray damage free（無損檢測）

4.安全檢測存儲半導(dǎo)體芯片

5.可同時兼容2D,3D自動檢測

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